광섬유 링크의 길이에 따라 발생하는 신호의 손실을 삽입 손실이라 하며, 삽입 손실 테스트는 광섬유 코어와 광섬유 케이블 연결에서 나타나는 빛의 손실을 측정하는 것입니다. 광원쪽으로 다시 반사되는 빛의 양을 측정하는 것을 반사 손실 테스트라고 합니다. 삽입 손실과 반사 손실은 모두 데시벨(dB) 단위로 측정됩니다.

유형에 관계없이 신호가 시스템이나 구성 요소를 통해 이동할 때 전력(신호) 손실은 불가피합니다. 빛이 광섬유를 통과할 때 손실이 매우 작으면 광신호의 품질에 영향을 미치지 않습니다. 손실이 클수록 반영되는 금액은 낮아집니다. 따라서 반사 손실이 높을수록 반사는 낮아지고 연결 상태는 좋아집니다.

Jera는 아래 제품에 대한 테스트를 진행합니다.

-광섬유 드롭 케이블

-광섬유 어댑터

-광섬유 패치 코드

-광섬유 땋은 머리

-광섬유 PLC 스플리터

광섬유 코어 연결 테스트는 IEC-61300-3-4(방법 B) 표준에 따라 운영됩니다. 절차 IEC-61300-3-4(방법 C) 표준.

우리는 고객이 품질 요구 사항을 충족하는 제품을 받을 수 있도록 매일 품질 테스트에 테스트 장비를 사용합니다. 우리 내부 연구실에서는 이러한 일련의 표준 관련 유형 테스트를 진행할 수 있습니다.

자세한 내용은 문의해 주셔서 감사합니다.

삽입 및 반사 손실 테스트


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